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SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台
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In-situ series 在线椭偏仪
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UVISEL 2 VUV 真空紫外椭偏仪
专为VUV 测量设计,整个系统处于真空状态,无氧气吸收。具备高度准确性;独一无二的超快测量速度;快速样品室抽真空能力,方便快速更换样品;氮气消耗量少。
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SEMILAB-全光谱椭偏仪GES5E
GES5E全光谱椭偏仪基于椭圆偏振测试技术,采用先进的旋转补偿器,结合光纤专li技术将偏振光信号传输至分段光谱优化的高分辨率单色仪或阵列式多通道摄谱仪,
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HORIBA.AutoSE.全自动快速椭偏仪
一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。
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HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
微米。此外,还可以测试材料的反射率及透过率。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm) * 微光斑可选50μm-100μm-1mm
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Film Sense FS-1™多波长椭偏仪
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HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
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HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪
多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。
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HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪
多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。
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